Changeset 2359


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Timestamp:
Jul 14, 2011, 5:58:52 AM (3 years ago)
Author:
wmb
Message:

OLPC manufacturing tests - fixed mfg-test-dev to correctly pass in device-specifier arguments, thus fixing a bug that caused "test int:0" to fail when the SD card did not have a partition table.

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  • cpu/x86/pc/olpc/via/mfgtest.fth

    r1975 r2359  
    3535: mfg-test-dev  ( $ -- ) 
    3636   restore-scroller 
    37    ??cr  ." Testing " 2dup type cr 
    38    locate-device  if  ." Can't find device node" cr  exit  then  ( phandle ) 
    39    " selftest" rot execute-phandle-method            ( return abort? ) 
    40    if 
    41       ?dup  if 
     37   ??cr  ." Testing " 2dup type cr                     ( $ ) 
     38   2dup locate-device  if                              ( $ ) 
     39      2drop ." Can't find device node" cr  exit        ( -- ) 
     40   else 
     41      drop                                             ( $ ) 
     42   then                                                ( $ phandle ) 
     43   " selftest" execute-device-method  if               ( return-code ) 
     44      ?dup  if                                         ( return-code ) 
    4245         ??cr ." Selftest failed. Return code = " .d cr 
    4346         mfg-color-red sq-border! 
     
    4649         flush-keyboard 
    4750         mfg-wait-return 
    48       else 
     51      else                                                   ( ) 
    4952         green-letters 
    5053         ." Okay" cr 
Note: See TracChangeset for help on using the changeset viewer.